测绘平面怎么测的
测绘平面的方法有多种，以下是一些常用的方法：
塞规/塞尺测量法
使用一套可随身携带的塞尺进行粗测，适用于零件边缘的平面度检测。这种方法精度不高，效率较低，结果不够全面。
激光平面干涉仪测量法
利用光学平晶产生的稳定干涉条纹来判断被测表面的平整度，适用于测量光洁的小平面，如千分头测量面、量规的工作面、光学透镜等。这种方法精度高，但主要用于特殊表面的测量。
打表测量法
将被测零件和测微计放在标准平板上，以标准平板作为测量基准面，用测微计沿实际表面逐点或沿几条直线方向进行测量。这种方法适用于需要较高精度的平面度测量。
三坐标测量仪
使用三坐标仪测量被测样品上各测量点相对于测量基准的数据，经过数据处理评定出平面度误差。这种方法精度高，适合各种复杂平面的测量，但成本较高。
液平面法
用液平面作为测量基准面，通过传感器进行测量，适合测量连续或不连续的大平面，但测量时间长，且对温度敏感。
水平仪/数字水平仪测量法
利用水平仪测量被测平面是否水平，适用于快速检查平面度，但精度较低。